如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱:
HORIBA AFM(原子間力顕微鏡)ラマン
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品展商:
其它品牌
折扣價格:
0.00 元
關注指數(shù):70
產(chǎn)品文檔:
無相關文檔
AFM(原子間力顕微鏡)ラマン
HORIBA AFM(原子間力顕微鏡)ラマン
的詳細介紹
-
概要
-
仕様
-
カタログ?アプリケーション?その他資料
AFM-Raman、TERS、SNOMによるナノイメージング裝置
※AFM : Atomic Force Microscope(原子間力顕微鏡)
※TERS : Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (チップ増強ラマン分光)
※SNOM : Scanning Near-field Optical Microscope (走査型近接場顕微鏡)
AFM測定とラマン分光測定を同時に高速マッピング可能なナノイメージング分光裝置です。ソフトウェア制御による、照射レーザ光のアライメント機構、AFMとラマン分光裝置との統(tǒng)合ソフトウェアを搭載することで、TERSやSNOM測定裝置としても容易な操作性、高速データ処理、高い信頼性を?qū)g現(xiàn)しました。
AFM-Ramanは、簡便に材料表面の物理、化學情報を得るための有効な複合裝置です。また、単にAFMとラマン分光測定を行うだけでなく、特殊なプローブを用いることでTERS、あるいはSNOMを組み合わせた測定が可能であり、AFM-Ramanはナノメートルスケールの構造解析ツールとして今後ますます発展する可能性があります。
AFM-ラマンとTERS が容易に
-
AFM、STM、SNOMなどの様々なSPM測定に対応
-
対物レンズスキャナを用いたレーザ照射ポイントのファインアライメント
-
垂直?斜方向に高NAの対物レンズ(0.7)を配置し、測定モードに合わせた*適な光學系を選択
-
1300 nm ダイオードをカンチレバーフィードバックに採用し、可視～近赤外領域においてダイオード光の干渉のない測定
-
AFMヘッドを取り外さずサンプル?チップ交換。交換前後のカンチレバー位置を自動調(diào)整(交換前後で測定位置座標が同じ)
-
カンチレバータイプおよびチューニングフォークを用いたメタルチップのTERS測定が可能
チューニングフォークを用いたTERS測定
-
LabRAM HR Evolutionとの統(tǒng)合により、紫外～近赤外領域まで高スペクトル分解能の測定を?qū)g現(xiàn)
-
1 臺のPCでAFMとラマン分光裝置を制御。
＜TERSによるナノスケールイメージング＞
表面トポグラフィとてTERSイメージを同時取得可能。
カーボンナノチューブ測定
|
STMイメージ
|
TERSイメージ
|
|
|
|
カーボンナノチューブ?グラフェン測定
TERSイメージ
ソフトウェア
スクリプト機能やワンクリックで測定できるメソッド機能を備えたHORIBAオリジナルのラマンソフトウェアLabspec6と、AFMソフトウェアを統(tǒng)合。AFMで測定したポイントを簡易な操作でラマン分光測定できるなど、AFM-Ramanとしての操作性を追求しました。
様々なタイプのAFMと正立?倒立顕微鏡タイプの顕微ラマン分光裝置との統(tǒng)合など、カスタマイズ対応可能です。詳細は弊社にお問い合わせください。
製造會社: HORIBA