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產(chǎn)品名稱:
紫外/可見(jiàn)/近紅外光分光光譜儀
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大冢光學(xué)
折扣價(jià)格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):460
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
多通道分光光譜儀高速量測(cè)紫外光(UV)、可見(jiàn)光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜。
功能豐富的專用軟體,可進(jìn)行顯微分光、發(fā)光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測(cè)。
*適用于低輝度(0.3cd/m2),如螢光、電漿發(fā)光等微弱光以及光源、顯示器量測(cè)。
16msec的高速光譜解析。
靈活堅(jiān)固的光纖搭配多元的選配附件,可架設(shè)于生產(chǎn)線上、真空環(huán)境或嵌入于現(xiàn)有設(shè)備中即時(shí)性量測(cè)。
紫外/可見(jiàn)/近紅外光分光光譜儀
的詳細(xì)介紹
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多通道分光光譜儀高速量測(cè)紫外光(UV)、可見(jiàn)光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜。
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功能豐富的專用軟體,可進(jìn)行顯微分光、發(fā)光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測(cè)。
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*適用于低輝度(0.3cd/m2),如螢光、電漿發(fā)光等微弱光以及光源、顯示器量測(cè)。
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16msec的高速光譜解析。
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靈活堅(jiān)固的光纖搭配多元的選配附件,可架設(shè)于生產(chǎn)線上、真空環(huán)境或嵌入于現(xiàn)有設(shè)備中即時(shí)性量測(cè)。
量測(cè)項(xiàng)目
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發(fā)光光譜測(cè)量
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色度測(cè)量
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透過(guò)率?反射率測(cè)量
產(chǎn)品規(guī)格
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28C
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310C
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3595C
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SC
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波長(zhǎng)范圍
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220~800 nm
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300~1000 nm
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350~950 nm
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380~780 nm
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分光元件
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全息成像光柵、F=3、f=135mm
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波長(zhǎng)精度*1
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±0.3 nm
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±0.5 nm
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±0.3 nm
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±0.3 nm
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感光元件*2
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電子制冷型光電二極管陣列(PDA)
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512ch
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1024ch
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512ch>
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1024ch
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512ch
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1024ch
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512ch
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1024ch
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解析能力
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1.2nm
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0.6nm
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1.7nm
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0.9nm
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1.3nm
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0.6nm
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0.9nm
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0.5nm
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曝光時(shí)間*3
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16msec ~ 20sec
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光纖規(guī)格
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石英制光纖、固定口徑φ12mm、長(zhǎng)約1m
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通訊介面
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USB or LAN
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尺寸重量
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300(W)x 170(H)x 350(D)mm、約10kg
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*1 波長(zhǎng)校正用光源對(duì)汞物理輝線之確認(rèn)值
*2 可選擇512ch或1024ch
*3 感度設(shè)定為Normal時(shí)
應(yīng)用范圍
■ 發(fā)光光譜分析儀系統(tǒng)
■ 反射光譜分析儀系統(tǒng)
■ 穿透、吸收光譜分析儀系統(tǒng)
■ 色度光譜分析儀系統(tǒng)
■ 光源光譜分析儀系統(tǒng)(色度/輝度/照度)
■ 膜厚光譜分析儀系統(tǒng)
■ 螢光光譜分析儀系統(tǒng)
■ 雙折射相位差光譜分析儀
■ 微光學(xué)元件光譜分析儀系統(tǒng)
光學(xué)配件
光學(xué)配件,光纖,量測(cè)平臺(tái),量測(cè)光源,專用軟體,其它