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產(chǎn)品名稱:
液晶層間隙(Cell gap)量測(cè)設(shè)備
產(chǎn)品型號(hào):
以穿透、半穿透方式量測(cè)TFT、STN，以及不同驅(qū)動(dòng)模式的VA、IPS及強(qiáng)誘電性液晶，也支援反射型TF
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大冢光學(xué)
折扣價(jià)格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):501
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
以穿透、半穿透方式量測(cè)TFT、STN，以及不同驅(qū)動(dòng)模式的VA、IPS及強(qiáng)誘電性液晶，也支援反射型TFT、STN液晶。視用途，從研發(fā)到品管皆有完整對(duì)應(yīng)機(jī)種。
除檢測(cè)液晶層間隙(Cell gap)，也可量測(cè)液晶面板及液晶材料相位差。橢圓率、方位角等偏光解析，光學(xué)軸、色度、穿透、反射光譜等綜合性的多功能檢測(cè)裝置。
液晶層間隙(Cell gap)量測(cè)設(shè)備
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特點(diǎn)
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以穿透、半穿透方式量測(cè)TFT、STN，以及不同驅(qū)動(dòng)模式的VA、IPS及強(qiáng)誘電性液晶，也支援反射型TFT、STN液晶。視用途，從研發(fā)到品管皆有完整對(duì)應(yīng)機(jī)種。
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除檢測(cè)液晶層間隙(Cell gap)，也可量測(cè)液晶面板及液晶材料相位差。橢圓率、方位角等偏光解析，光學(xué)軸、色度、穿透、反射光譜等綜合性的多功能檢測(cè)裝置。
量測(cè)項(xiàng)目
產(chǎn)品規(guī)格
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樣品對(duì)應(yīng)尺寸
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20mm×20mm ～大型尺寸玻璃基板(2000mm×2000mm以上)
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液晶層間隙量測(cè)范圍
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0.1μm ～ 數(shù)十μm
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液晶層間隙量測(cè)再現(xiàn)性
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±0.005μm
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檢測(cè)器
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分光光譜儀
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量測(cè)波長(zhǎng)范圍
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400 ～ 800nm
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光學(xué)系統(tǒng)
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偏光光學(xué)系統(tǒng)
消光率10-5方解石偏光片(Gran-tomson prism)
自動(dòng)旋轉(zhuǎn)(角度 精度0.1°)
自動(dòng)裝卸裝置
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量測(cè)口徑
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φ2, 5, 10 (mm)
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光軸傾斜角度
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-10 ～ 45°(選配功能)
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重量
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約60kg
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光學(xué)配件
相位差膜,橢圓膜,偏光膜,液晶顯示器材料