X射線熒光光譜儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XUV®773，F(xiàn)ISCHER的產(chǎn)品介紹：

FISCHERSCOPE X-RAY XUV®773器配有一個(gè)可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測
器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素N、 M以及元素Zn、 Cu、 Ni
的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號(hào)計(jì)數(shù)率，使儀器可以達(dá)到極小的重復(fù)精度和極低
的測量下限。 XUV非常適合測量極薄的鍍層和痕量分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XUV®773的特征：

·帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管，可選鎢管
和鉬管。*高工作條件：50 kV, 50W
·X射線探測器采用珀?duì)柼吕涞墓杵?br /> 探測器
·準(zhǔn)直器： 4個(gè)，可自動(dòng)切換，從直徑
0.1mm到3mm
·基本濾片： 6個(gè)，可自動(dòng)切換
·可編程XYZ工作臺(tái)
·攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量
位置。刻度線經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測量點(diǎn)
大小。
·在真空，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

·測量輕元素
·測量超薄鍍層和痕量分析
·常規(guī)金屬分析鑒定
·非破壞式寶石分析
·太陽能光伏產(chǎn)業(yè)