HORIBA納米粒度及Zeta電位分析儀— SZ-100V2

儀器用途及應(yīng)用范圍:
SZ-100V2擁有兩個角度檢測器,可測量不同濃度樣品( 高濃度、稀釋樣品、有色樣品)**Zeta 電位樣品池設(shè)計,電極間距小,石墨涂層,可減小所加電壓、*小化水的電解效應(yīng),延長樣品池壽命。
一.生命科學(xué)
蛋白質(zhì)團(tuán)聚的粒徑檢測
脂質(zhì)體、病毒粒徑測量
蛋白質(zhì)的Zeta 電位、等電點(diǎn)測量
二.半導(dǎo)體材料
CMP 拋光液粒徑分析
CMP 拋光液在線粒徑分布監(jiān)控
CMP 研磨液Zeta 電位分析
硅片切削液粒徑分布分析
產(chǎn)品特點(diǎn):
粒徑測量原理:動態(tài)光散射法(光子相關(guān)光譜法)
粒徑測定范圍:0.3 nm ~ 10 μm
Zeta 電位測量原理:激光多普勒電泳法
Zeta 電位測量范圍:-500 mV ~ +500 mV
分子量測量原理:Debye plot
分子量測量范圍:1000 ~ 2×107 Da
測量角度:90° 、173°和17°
樣品量:12 μL ~ 1000 μL
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結(jié)合旗下具有200多年歷史品牌JobinYvon光譜技術(shù),HORIBA一直致力于為科研及工業(yè)用戶提供先進(jìn)的檢測和分析工具及解決方案,如:光學(xué)光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進(jìn)檢測技術(shù)。
如今,HORIBA高品質(zhì)科學(xué)儀器已成為全球科研、各行業(yè)研發(fā)及質(zhì)量控制的優(yōu)先選擇