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公司新聞

美國Filmetrics優(yōu)尼康KLA探針式臺階儀P-7


美國Filmetrics優(yōu)尼康KLA探針式臺階儀P-7

美國Filmetrics優(yōu)尼康提供主動式減震臺; Proflm3D光學輪廓儀; Fimetrics膜厚儀; 美國薄膜測厚儀;臺階儀; 輪廓儀等產品
P-7建立在P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎之上。 它保持了P-17技術的測量性能,并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了很高的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。



產品描述

P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量,適用于生產和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。

P-7建立在P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎之上。 它保持了P-17技術的測量性能,并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了很好的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。





主要功能

  1.臺階高度:幾納米至1000μm

  2.微力恒力控制:0.0350mg

  3.樣品全直徑掃描,無需圖像拼接

  4.視頻:500萬像素高分辨率彩色攝像機

  5.圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差

  6.軟件:簡單易用的軟件界面

  7.生產能力:通過測序,模式識別和SECS / GEM實現(xiàn)全自動化
主要應用

      臺階高度:2D3D臺階高度

      紋理:2D3D粗糙度和波紋度

      形狀:2D3D翹曲和形狀

      應力:2D3D薄膜應力

      缺陷復檢:2D3D缺陷表面形貌
工業(yè)應用

      大學、研究實驗室和研究所

      半導體和化合物半導體

      LED:發(fā)光二極管

     太陽能

     MEMS:微機電系統(tǒng)

     數(shù)據(jù)存儲

     汽車

     醫(yī)療設備


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